Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?
7

Charge character of interface traps at the Si-SiO2 interface

Année:
1986
Langue:
english
Fichier:
PDF, 469 KB
english, 1986
13

Electron Trapping Induced by High-Energy Ionizing Radiation in SiO 2

Année:
1985
Langue:
english
Fichier:
PDF, 898 KB
english, 1985